Microscopios Nikon Eclipse Ji
Características Clave
 

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Microscopio Nikon Jii
 
   Microscopio Digital Invertido de Arquitectura Abierta
El ECLIPSE Ji es el primer microscopio digital de grado de investigación de Nikon. Sin oculares, este microscopio está diseñado para que aprenda a usarlo fácilmente, mientras mantiene la calidad óptica y un gran Campo de Observación (CDO) por la que los microscopios Nikons on bien conocidos.

Adicionalmente, la 4° Generación del sistema de Enfoque Perfecto de Nikon (PFS) esta integrado en el Ji para observaciones confiables de especimenes en observaciones de largo periodo de tiempo.

La carcaza integrada del Ji significa que los usuarios pueden navegar sus muestras en ambientes de luz brillante o aun en forma remota, usando detectores CMOS de grado científico incorporados, o usando cualesquiera de los otros detectores disponibles, dependiendo de la aplicación de su investigación.
  Eclipse Ji configurado con el sistema confocal AX-NSPARC
 
      Características Clave
 
  Microscopio Digital / Amplia Elección de Óptica  
El Ji es compatible con una variedad de lentes objetivos de investigación de Nikon, incluyendo lentes de inmersión (agua, silicón, y aceite), permitiendo una configuración flexible del microscopio para una amplia variedad de aplicaciones de investigación

Corrección de enfoque en tiempo real con el Sistema de Enfoque Perfecto (PFS)
El Sistema de Enfoque Perfecto (PFS) corrige automáticamente la deriva de enfoque causado por los cambios de temperatura y vibraciones mecánicas, que puede ser generado por una variedad de factores incluyendo el agregar reactivos a la muestra o la obtención de imágenes en varias posiciones.

El PFS mantiene el foco detectando y rastreando la posición de la superficie del cubre objetos en tiempo real. Con una tecnología de compensación óptica que es única, permite a los usuarios mantener el foco en una posición desada a partir de la superficie del cubre objetos. El PFS de forma automática y contina, mantiene el foco por medio de un codificador lineal y un mecanismo de retroalimentación, que brinda imágenes de alta confiabilidad aun durante periodos de tiempo prolongados, con tareas de imagene complejas.
Neutrophil fluyendo en vaso sanguineo (lapso de tiempo)
Imágenes cortesía de: Profesor Masaru Ishii, Departamento de Inmunología y Biología Celular, Escuela de Graduados de Medicina, Universidad de Osaka.

Puerto de Imagen de 25mm que Permite un Campo de Observación Grande de la Muestra

El microscopio Eclipse Ji ofrece un campo de observación de 25mm (FOV) capturando más de 2x de datos en una sola imagen comparado con la tecnología anterior. El gran campo de observación da imágenes planas de lado a lado, aun con las cámaras de sensores de gran formato sCMOS, permitiendo que los usuarios obtengan datos cuantitativos de toda la imagen.
  Danio sp. 2d + embrión 4K
Navegación Mejorada y Detección Usando Herramienta IA

Las innovadoras herramientas IA para navegación de muestras facilita encontrar las muestras, ajustar las longitudes de onda apropiadas, tiempo de exposición e intensidad luminosa, y localiza las áreas de interés sin la necesidad de usar oculares. El tiempo en el microscopio debe ser dedicado a la ejecución de experimentos, no en luchara para encontrar la muestra, ajustar los parámetros y navegación.

Detección automática del tipo de placa y mapa virtual para navegación

Los ajustes de los experimentos optimizan rápidamente la iluminación y ajustes de los filtros, mientras simplica la interfase del usuario para enfocarse en el experimento.


Ideal para Análisis e Imagen Automatizada

El microscopio Nikon Eclipse Ji esta diseñado para ser más fácil de operar: herramientas para asistir en el enfoque, elección de longitud de onda, así como herramientas de imágenes incorporadas como corrección de sombra, y compensación de desplazamiento. Las herramientas opcionales como la deconvolución se pueden integrar fácilmente.

Ya que el Ji puede ser la plataforma de un gran número de posibles detectores, hay una extensa caja de herramientas de análisis y herramientas de procesamiento disponibles.
Expansión Incorporada

El Ji esta diseñado para integrarse fácilmente a herramientas adicionales de image conforme las necesidades de investigación se desarrollen con el paso del tiempo, incluyendo cámaras ambientales, motores de enfoque rápido, y más.
La base para una Variedad de Opciones de Detectores

El Eclipse Ji incluye un detector CMOS monocromático, viene incorporado por omisión, y se pueden añadir otros detectores fácilmente en la base dependiendo de las necesidades de las aplicaciones. Sistemas confocales de punto y escaneo de campo, sistemas de súper resolución, y otros detectores de grado científico se pueden colocar fácilmente en en el puerto con campo de visión de 25mm.
  Aviso: La opción crest está disponible en regiones limitadas. Contacte a su distribuidor loca, para información de este producto opcional en su país
Eclipse Ji Microscopio para Ensayos

La arquitectura base del Eclipse Ji también se encuentra disponible como un microscopio de escritorio para ensayos listo para operar, con ensayos previamente definidos amigables al usuario con escaneo de placas automatizado y salida de datos enriquecida
*El diseño y especificaciones pueden ser diferentes del producto real.
 
   
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