Nikon Metrología Rayos X
CT Series Inspección
 
 Técnica En Laboratorios, S.A.  
Ciudad de México  México  
Tels: (+52) 55 5574 5883 y 55 5574 1138  
Fax (+52) 55 5564 1663  
Correo info@tecnicaenlaboratorios.com
 

Nuevo sistema de TC por rayos X con inspección mejorada y doble productividad

 

Cinco características nuevas únicas:

Rotating.Target 2.0 | Calibración local

Control automático de filamentos | Quick.Change | Half.Turn CT

 

XT H 225 ST 2x

Productividad sin compromiso

 

Durante muchos años, la TC de rayos X (tomografía computarizada) se ha utilizado en laboratorios para inspeccionar el interior de muestras como fósiles y artefactos. Más recientemente, esta valiosa tecnología se ha abierto camino en el entorno de fabricación para aplicaciones de control de calidad. Es capaz de detectar de forma no destructiva huecos, rebabas, grietas y otras imperfecciones dentro de los componentes y conjuntos, incluidos los que se han fabricado de forma aditiva. También sirve como una herramienta de metrología para garantizar el cumplimiento dimensional, tanto interna como externamente, con un alto grado de precisión.

 

Sin embargo, los fabricantes ya no solo encuentran fallas en un proceso de fabricación. La utilidad de CT va aún más allá en el piso de la fábrica al permitir que una línea de producción se ajuste continuamente en tiempo real para evitar que los componentes se salgan de la tolerancia. Al combinar hardware exclusivo con software innovador, el XT H 225 ST 2x ofrece la eficiencia, confiabilidad y precisión requeridas para estas aplicaciones de producción. Durante todo el tiempo de comercialización del nuevo producto de un usuario, se admiten todos los pasos desde I + D hasta la configuración de la línea de producción y las pruebas previas a la serie hasta la producción completa.

 Descripción del producto

La integración de funciones líderes en la industria en el sistema de TC de rayos X con microfoco XT H 225 ST 2x permite duplicar la velocidad de adquisición de datos y, por lo tanto, la productividad de la inspección. Es el resultado del uso de tecnología avanzada de detectores combinada con nuevas funciones que incluyen Half.Turn CT y Rotating.Target 2.0.




Beneficios y características

Half.Turn CT, adquisición de CT más rápida

 

En lugar de rotar la muestra bajo investigación 360 grados mientras los rayos X dirigidos a ella son absorbidos o pasan al detector, Nikon Metrology ha ideado un método que permite obtener datos suficientes girando la muestra un poco más de 180 grados. .

 

El control interno completo sobre el desarrollo del software de reconstrucción líder en el mundo ha facilitado el avance de Half.Turn CT, ya que permitió la introducción de un novedoso cálculo automático del centro de rotación junto con la optimización del algoritmo de reconstrucción. Juntos eliminan los artefactos introducidos al girar una muestra menos de 360 ​​grados. Como consecuencia, una imagen se produce automáticamente sin pérdida de calidad o precisión a partir de aproximadamente la mitad de los datos adquiridos habitualmente con la TC convencional.

Objetivo giratorio único

 

Nikon Metrology es la única empresa del mundo que suministra sistemas de TC de rayos X con tecnología de objetivo giratorio. Otros productos en el mercado, que utilizan materiales absorbentes de calor, requieren períodos de enfriamiento y pueden tener limitaciones de energía, pero el objetivo giratorio exclusivo de 225 kV permite un funcionamiento continuo en todo su rango de potencia hasta 450 W para una productividad de inspección superior.

 

La tecnología de objetivo giratorio refrigerado por líquido agrega más capacidades de potencia, resolución y reducción del tiempo de escaneo. Dispersa de manera eficiente el calor generado cuando el haz de electrones golpea la superficie para generar fotones de rayos X, aumentando el flujo hasta 5 veces, permitiendo una resolución hasta 3 veces mayor para la misma potencia, o permitiendo que se recopilen datos 3- 5 veces más rápido para la misma resolución.

Control automático de filamentos y cambio rápido

 

Los rayos X de microfoco de alta resolución comienzan con electrones emitidos por un filamento delgado que debe reemplazarse periódicamente. Es deseable un cambio menos frecuente del filamento, ya que significa que la disponibilidad del sistema es mayor. Hay disponibles filamentos de larga duración, pero son más gruesos, por lo que se pierde la naturaleza de alta resolución de los rayos X de microenfoque. Con el XT H 225 ST 2x, el usuario ya no tiene que elegir entre filamentos de alta resolución y de larga duración.

 

Auto.Filament Control controla de forma inteligente la fuente de rayos X para duplicar la vida útil del filamento y aumentar la disponibilidad del sistema. Nikon Metrology puede implementar estos algoritmos ya que sus fuentes se diseñan y fabrican internamente, lo que brinda la capacidad y la experiencia para controlar la fuente de tal manera que aumenta la vida operativa.

 

Cuando es necesario reemplazar el filamento, el tiempo de inactividad se reduce considerablemente con la introducción de las copas de filamento Quick.Change plug-and-play. Este procedimiento conveniente y altamente repetible elimina el error humano. Además, los propios filamentos han sido alineados y acondicionados por los ingenieros de rayos X de Nikon Metrology para ofrecer un rendimiento óptimo.

Calibración local, mediciones de TC de alta precisión

 

Local.Calibration permite una calibración rápida y automatizada del tamaño del vóxel en cualquier posición de tomografía computarizada, en lugar de que el usuario tenga que realizar la función manualmente. Conduce a una mejora radical en la precisión de la medición para aplicaciones de metrología. Otros beneficios son que el procedimiento está descualificado y se puede rastrear la precisión dimensional. Como la posición de la tomografía computarizada se calibra con referencia a un artefacto conocido, las mediciones se pueden realizar con un alto nivel de confianza.

Fuente de rayos X para cada aplicación

 

En el corazón de la calidad de imagen superior de Nikon Metrology se encuentra la tecnología de fuente de rayos X líder en el mundo. Donde los modelos de la competencia requieren configuraciones de doble tubo para mayor flexibilidad, el diseño de la fuente de rayos X interna única de Nikon en el XT H 225 ST 2x permite que hasta 4 cabezales de objetivo encajen en la misma base del tubo de rayos X, lo que resulta en una flexibilidad y rendimiento con un solo tubo.

 

Los objetivos de rayos X fácilmente intercambiables permiten la optimización para una amplia gama de muestras, ofreciendo un objetivo de transmisión con reconocimiento de características submicrónicas, a través del objetivo de reflexión de 225 kV (con la opción única de objetivo multimetálico), hasta el único diseño de objetivo giratorio del mundo para rendimiento excepcional.

Automatización e integración

 

La serie XT H proporciona modos de automatización para maximizar la productividad de la TC. Los flujos de trabajo de producción automatizados son totalmente personalizables, con escaneo, reconstrucción y análisis de datos automatizados. El software CT Pro interno ofrece tiempos de reconstrucción líderes en el mundo realizados por las especificaciones de computadora de alto rendimiento configuradas por expertos de Nikon Metrology, con opciones de mejora de imagen y eliminación de artefactos incluidas como estándar.

 

Con control total a través de la comunicación IPC, la serie XT H se puede configurar con cargadores automáticos y retroadaptación de robots para una automatización completa y una integración perfecta en una línea de producción. Después de proporcionar una calidad de imagen superior y tiempos de reconstrucción líderes, las herramientas de análisis personalizables están disponibles con salida de datos compatible tanto con el software interno como con todo el software de terceros líder en la industria para automatizar el análisis específico de la muestra.

  

Catálogos      
XT Series H XT H 225 ST 2x    
 
 
Ir al Principio
 
Técnica En Laboratorios, S.A.  Acerca de Nosotros | Contactos | Mapa del Sitio | Términos de Uso | Aviso de Privacidad

Ciudad de México, México. (+52) 55 5574 5883, 55 5574 1138 E-mail info@tecnicaenlaboratorios.com

© Noviembre 2023, Todos los derechos reservados Técnica En Laboratorios, S.A.