Nuevo sistema de TC por rayos X con
inspección mejorada y doble productividad
Cinco características nuevas únicas:
Rotating.Target 2.0 | Calibración local
Control automáticode filamentos |
Quick.Change | Half.Turn CT
XT H 225 ST 2x
Productividad sin compromiso
Durante muchos años, la TC de rayos X (tomografía computarizada) se ha
utilizado en laboratorios para inspeccionar el interior
de muestras como fósiles y artefactos. Más
recientemente, esta valiosa tecnología se ha abierto
camino en el entorno de fabricación para aplicaciones de
control de calidad. Es capaz de detectar de forma no
destructiva huecos, rebabas, grietas y otras
imperfecciones dentro de los componentes y conjuntos,
incluidos los que se han fabricado de forma aditiva.
También sirve como una herramienta de metrología para
garantizar el cumplimiento dimensional, tanto interna
como externamente, con un alto grado de precisión.
Sin embargo, los fabricantes ya no solo encuentran fallas en un proceso
de fabricación. La utilidad de CT va aún más allá en el
piso de la fábrica al permitir que una línea de
producción se ajuste continuamente en tiempo real para
evitar que los componentes se salgan de la tolerancia.
Al combinar hardware exclusivo con software innovador,
el XT H 225 ST 2x ofrece la eficiencia, confiabilidad y
precisión requeridas para estas aplicaciones de
producción. Durante todo el tiempo de comercialización
del nuevo producto de un usuario, se admiten todos los
pasos desde I + D hasta la configuración de la línea de
producción y las pruebas previas a la serie hasta la
producción completa.
Descripción del producto
La integración de funciones líderes en la industria en el sistema de TC
de rayos X con microfoco XT H 225 ST 2x permite duplicar
la velocidad de adquisición de datos y, por lo tanto, la
productividad de la inspección. Es el resultado del uso
de tecnología avanzada de detectores combinada con
nuevas funciones que incluyen Half.Turn CT y
Rotating.Target 2.0.
Beneficios y características
Half.Turn CT, adquisición de CT más
rápida
En lugar de rotar la muestra bajo investigación 360 grados mientras los
rayos X dirigidos a ella son absorbidos
o pasan al detector, Nikon Metrology ha
ideado un método que permite obtener
datos suficientes girando la muestra un
poco más de 180 grados. .
El control interno completo sobre el desarrollo del software de
reconstrucción líder en el mundo ha
facilitado el avance de Half.Turn CT, ya
que permitió la introducción de un
novedoso cálculo automático del centro
de rotación junto con la optimización
del algoritmo de reconstrucción. Juntos
eliminan los artefactos introducidos al
girar una muestra menos de 360 grados.
Como consecuencia, una imagen se produce
automáticamente sin pérdida de calidad o
precisión a partir de aproximadamente la
mitad de los datos adquiridos
habitualmente con la TC convencional.
Objetivo giratorio único
Nikon Metrology es la única empresa del mundo que suministra sistemas de
TC de rayos X con tecnología de objetivo
giratorio. Otros productos en el
mercado, que utilizan materiales
absorbentes de calor, requieren períodos
de enfriamiento y pueden tener
limitaciones de energía, pero el
objetivo giratorio exclusivo de 225 kV
permite un funcionamiento continuo en
todo su rango de potencia hasta 450 W
para una productividad de inspección
superior.
La tecnología de objetivo giratorio refrigerado por líquido agrega más
capacidades de potencia, resolución y
reducción del tiempo de escaneo.
Dispersa de manera eficiente el calor
generado cuando el haz de electrones
golpea la superficie para generar
fotones de rayos X, aumentando el flujo
hasta 5 veces, permitiendo una
resolución hasta 3 veces mayor para la
misma potencia, o permitiendo que se
recopilen datos 3- 5 veces más rápido
para la misma resolución.
Control automático de filamentos y
cambio rápido
Los rayos X de microfoco de alta resolución comienzan con electrones
emitidos por un filamento delgado que
debe reemplazarse periódicamente. Es
deseable un cambio menos frecuente del
filamento, ya que significa que la
disponibilidad del sistema es mayor. Hay
disponibles filamentos de larga
duración, pero son más gruesos, por lo
que se pierde la naturaleza de alta
resolución de los rayos X de
microenfoque. Con el XT H 225 ST 2x, el
usuario ya no tiene que elegir entre
filamentos de alta resolución y de larga
duración.
Auto.Filament Control controla de forma inteligente la fuente de rayos X
para duplicar la vida útil del filamento
y aumentar la disponibilidad del
sistema. Nikon Metrology puede
implementar estos algoritmos ya que sus
fuentes se diseñan y fabrican
internamente, lo que brinda la capacidad
y la experiencia para controlar la
fuente de tal manera que aumenta la vida
operativa.
Cuando es necesario reemplazar el filamento, el tiempo de inactividad se
reduce considerablemente con la
introducción de las copas de filamento
Quick.Change plug-and-play. Este
procedimiento conveniente y altamente
repetible elimina el error humano.
Además, los propios filamentos han sido
alineados y acondicionados por los
ingenieros de rayos X de Nikon Metrology
para ofrecer un rendimiento óptimo.
Calibración local, mediciones de TC de
alta precisión
Local.Calibration permite una calibración rápida y automatizada del
tamaño del vóxel en cualquier posición
de tomografía computarizada, en lugar de
que el usuario tenga que realizar la
función manualmente. Conduce a una
mejora radical en la precisión de la
medición para aplicaciones de
metrología. Otros beneficios son que el
procedimiento está descualificado y se
puede rastrear la precisión dimensional.
Como la posición de la tomografía
computarizada se calibra con referencia
a un artefacto conocido, las mediciones
se pueden realizar con un alto nivel de
confianza.
Fuente de rayos X para cada aplicación
En el corazón de la calidad de imagen superior de Nikon Metrology se
encuentra la tecnología de fuente de
rayos X líder en el mundo. Donde los
modelos de la competencia requieren
configuraciones de doble tubo para mayor
flexibilidad, el diseño de la fuente de
rayos X interna única de Nikon en el XT
H 225 ST 2x permite que hasta 4
cabezales de objetivo encajen en la
misma base del tubo de rayos X, lo que
resulta en una flexibilidad y
rendimiento con un solo tubo.
Los objetivos de rayos X fácilmente intercambiables permiten la
optimización para una amplia gama de
muestras, ofreciendo un objetivo de
transmisión con reconocimiento de
características submicrónicas, a través
del objetivo de reflexión de 225 kV (con
la opción única de objetivo
multimetálico), hasta el único diseño de
objetivo giratorio del mundo para
rendimiento excepcional.
Automatización e integración
La serie XT H proporciona modos de automatización para maximizar la
productividad de la TC. Los flujos de
trabajo de producción automatizados son
totalmente personalizables, con escaneo,
reconstrucción y análisis de datos
automatizados. El software CT Pro
interno ofrece tiempos de reconstrucción
líderes en el mundo realizados por las
especificaciones de computadora de alto
rendimiento configuradas por expertos de
Nikon Metrology, con opciones de mejora
de imagen y eliminación de artefactos
incluidas como estándar.
Con control total a través de la comunicación IPC, la serie XT H se puede
configurar con cargadores automáticos y
retroadaptación de robots para una
automatización completa y una
integración perfecta en una línea de
producción. Después de proporcionar una
calidad de imagen superior y tiempos de
reconstrucción líderes, las herramientas
de análisis personalizables están
disponibles con salida de datos
compatible tanto con el software interno
como con todo el software de terceros
líder en la industria para automatizar
el análisis específico de la muestra.