Nikon Metrología Rayos X
CT Series 450Kv
 
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Inspección CT 450kV

 

El exclusivo sistema de rayos X y TC XT H 450 de

Nikon proporciona una resolución y una calidad de

imagen incomparables para la inspección no

 destructiva de componentes densos

XT H 450

Sistema único de rayos X y CT con microfoco de 450kV para inspeccionar componentes densos

 

El sistema de rayos X y TC de Nikon Metrología XT H 450 con la exclusiva fuente de rayos X de microfoco de 450kV ofrece la potencia necesaria para penetrar piezas de alta densidad, mientras se logra una precisión de micrones. Utilizado junto con una matriz de diodos lineales curvos (CLDA) patentada, la XT H 450 puede producir radiografías sin dispersión y volúmenes de imágenes en 3D de estructuras densas y complejas.

 

El XT H 450 es ideal para inspeccionar de forma no destructiva hojas de turbinas de aleación de metal de tamaño pequeño a mediano, piezas fabricadas o fundidas con aditivos metálicos y otros objetos densos, lo que permite a los usuarios visualizar, analizar y medir geometrías complejas, superficies y componentes internos sin seccionar físicamente la muestra.

Descripción del producto

 

El sistema XT H 450 ofrece la única fuente de rayos X de microenfoque de 450 kV de alta energía del mundo, con repetibilidad y precisión de 25 micrones. El sistema genera impresionantes imágenes en 2D y 3D con una relación señal-ruido inigualable, con flexibilidad para integrar múltiples detectores. XT H 450 es perfecto para alto rendimiento, alta precisión y una variedad de aplicaciones.




Beneficios y características

 

Fuente de rayos X de microfoco de 450kV

 

La fuente de rayos X de microenfoque de 450kV/450 W es la única en el mundo que ofrece una energía tan alta con una resolución tan alta, con una repetibilidad y precisión de 25 micrones. El tamaño del punto es muchas veces más pequeño que el de las fuentes de minifoco, por lo que el nivel de detalle que captura es incomparable. Los usuarios se benefician de una mejor visualización a través de una resolución y precisión superiores, así como la capacidad de abordar una amplia gama de aplicaciones.

 

El XT H 450 tiene un diseño de tubo abierto, lo que significa que el filamento se puede reemplazar de forma económica en minutos. Por el contrario, los tubos sellados son costosos de reemplazar cuando fallan. El intercambio interno de filamentos de tubo abierto reduce el tiempo de inactividad a unos minutos en lugar de días o semanas, lo que permite una vida útil prolongada, una calidad de imagen constante y un costo de propiedad reducido. La fuente de rayos X de 450kV está disponible con tecnología de objetivo giratorio única (ver más abajo).

Objetivos giratorios de 450kV de alto brillo

 

La fuente de rayos X de 450kV de alto brillo de Nikon Metrología utiliza tecnología de objetivo giratorio, única en los sistemas de microenfoque industriales. El objetivo giratorio disipa el calor durante la generación de rayos X, lo que permite un tamaño de punto más pequeño para energías y potencias más altas, lo que en última instancia conduce a imágenes de mayor resolución y alto contraste.

 

El objetivo giratorio refrigerado por líquido significa que la potencia se puede multiplicar por cuatro sin degradar el tamaño del punto. Esto permite una adquisición de datos de TC más rápida al tomar más radiografías en un tiempo determinado sin sacrificar la calidad de la imagen, o una mayor precisión y resolución de los datos al mismo tiempo. La fuente de microenfoque de 450kV proporciona una calidad de imagen óptima al producir menos falta de nitidez geométrica, lo que permite la ampliación de la imagen sin sacrificar la calidad.

Tecnología de detector única

 

El sistema XT H 450 está disponible con un detector de panel plano de alta calidad y el CLDA. Su diseño único permite una longitud constante de la trayectoria de los rayos X, con cristales más largos diseñados específicamente para mejorar la sensibilidad de los rayos X hasta 450kV y, por lo tanto, aumentar la relación señal/ruido. El diseño de este detector también optimiza la colección de rayos X sin capturar rayos X dispersos no deseados, que son causados ​​por muestras densas. Se entregan una nitidez y un contraste de imagen asombroso, ya que se evitan la contaminación de la imagen y la reducción de contraste asociada, lo que proporciona información crítica sobre el componente que se está examinando.

 

La combinación de detectores permite un alto rendimiento y una calidad de imagen sorprendente, lo que permite medir la geometría interna y externa de una pieza de manera eficiente y no destructiva, lo que ahorra el tiempo y el costo de seccionar las muestras para el control de calidad. La precisión de medición superior y la capacidad de detección de pequeñas características significan que las piezas de precisión, los componentes fabricados de forma aditiva, las piezas fundidas y los conjuntos complejos se pueden inspeccionar con rapidez.

  

Especificaciones


XT H 320
Fuente de alto Kv para partes de media densidad
 
XT H 450
Fuente de alto Kv para partes de alta densidad
Tamaño de Parte   Tamaño de Parte
Densisdad de Parte   Densidad de Parte
Peso de Parte   Peso de Parte
Detector Dual -   Detector Dual
Libre de dispersión CT -   Libre de dispersión CT
Huella   Huella

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