Sistema único de rayos X y CT con microfoco de
450kV para inspeccionar componentes densos
El sistema de rayos X y TC de Nikon Metrología XT H 450 con la exclusiva
fuente de rayos X de microfoco de 450kV ofrece la
potencia necesaria para penetrar piezas de alta
densidad, mientras se logra una precisión de micrones.
Utilizado junto con una matriz de diodos lineales curvos
(CLDA) patentada, la XT H 450 puede producir
radiografías sin dispersión y volúmenes de imágenes en
3D de estructuras densas y complejas.
El XT H 450 es ideal para inspeccionar de forma no destructiva hojas de
turbinas de aleación de metal de tamaño pequeño a
mediano, piezas fabricadas o fundidas con aditivos
metálicos y otros objetos densos, lo que permite a los
usuarios visualizar, analizar y medir geometrías
complejas, superficies y componentes internos sin
seccionar físicamente la muestra.
Descripción del producto
El sistema XT H 450 ofrece la única fuente de rayos X de microenfoque de
450 kV de alta energía del mundo, con repetibilidad y
precisión de 25 micrones. El sistema genera
impresionantes imágenes en 2D y 3D con una relación
señal-ruido inigualable, con flexibilidad para integrar
múltiples detectores. XT H 450 es perfecto para alto
rendimiento, alta precisión y una variedad de
aplicaciones.
Beneficios y características
Fuente de rayos X de microfoco
de 450kV
La fuente de rayos X de microenfoque de 450kV/450 W es la única en el
mundo que ofrece una energía tan alta
con una resolución tan alta, con una
repetibilidad y precisión de 25
micrones. El tamaño del punto es muchas
veces más pequeño que el de las fuentes
de minifoco, por lo que el nivel de
detalle que captura es incomparable. Los
usuarios se benefician de una mejor
visualización a través de una resolución
y precisión superiores, así como la
capacidad de abordar una amplia gama de
aplicaciones.
El XT H 450 tiene un diseño de tubo abierto, lo que significa que el
filamento se puede reemplazar de forma
económica en minutos. Por el contrario,
los tubos sellados son costosos de
reemplazar cuando fallan. El intercambio
interno de filamentos de tubo abierto
reduce el tiempo de inactividad a unos
minutos en lugar de días o semanas, lo
que permite una vida útil prolongada,
una calidad de imagen constante y un
costo de propiedad reducido. La fuente
de rayos X de 450kV está disponible con
tecnología de objetivo giratorio única
(ver más abajo).
Objetivos giratorios de 450kV de alto brillo
La fuente de rayos X de 450kV de alto brillo de Nikon Metrología utiliza
tecnología de objetivo giratorio, única
en los sistemas de microenfoque
industriales. El objetivo giratorio
disipa el calor durante la generación de
rayos X, lo que permite un tamaño de
punto más pequeño para energías y
potencias más altas, lo que en última
instancia conduce a imágenes de mayor
resolución y alto contraste.
El objetivo giratorio refrigerado por líquido significa que la potencia
se puede multiplicar por cuatro sin
degradar el tamaño del punto. Esto
permite una adquisición de datos de TC
más rápida al tomar más radiografías en
un tiempo determinado sin sacrificar la
calidad de la imagen, o una mayor
precisión y resolución de los datos al
mismo tiempo. La fuente de microenfoque
de 450kV proporciona una calidad de
imagen óptima al producir menos falta de
nitidez geométrica, lo que permite la
ampliación de la imagen sin sacrificar
la calidad.
Tecnología de detector única
El sistema XT H 450 está disponible con un detector de panel plano de
alta calidad y el CLDA. Su diseño único
permite una longitud constante de la
trayectoria de los rayos X, con
cristales más largos diseñados
específicamente para mejorar la
sensibilidad de los rayos X hasta 450kV
y, por lo tanto, aumentar la relación
señal/ruido. El diseño de este detector
también optimiza la colección de rayos X
sin capturar rayos X dispersos no
deseados, que son causados por
muestras densas. Se entregan una nitidez
y un contraste de imagen asombroso, ya
que se evitan la contaminación de la
imagen y la reducción de contraste
asociada, lo que proporciona información
crítica sobre el componente que se está
examinando.
La combinación de detectores permite un alto rendimiento y una calidad de
imagen sorprendente, lo que permite
medir la geometría interna y externa de
una pieza de manera eficiente y no
destructiva, lo que ahorra el tiempo y
el costo de seccionar las muestras para
el control de calidad. La precisión de
medición superior y la capacidad de
detección de pequeñas características
significan que las piezas de precisión,
los componentes fabricados de forma
aditiva, las piezas fundidas y los
conjuntos complejos se pueden
inspeccionar con rapidez.
Especificaciones
XT H 320
Fuente de alto Kv para partes de media densidad
XT H 450
Fuente de alto Kv para partes de alta densidad
Sistemas avanzados de inspección de alta
precisión con reconocimiento de características
submicrónicas para inspección de rayos X,
análisis de defectos de componentes electrónicos
y mucho más.
Sistemas líderes en la industria que ofrecen
precisión a micras para realizar análisis
estructural y dimensional y mediciones no
destructivas de geometría compleja.
El software avanzado maximiza la inspección de
los rayos X en la serie de sistemas XT V, usando
las capacidades más avanzadas para visualización
y análisis.
Software líder en la industria para inspección
intuitiva de CT de rayos X, ofrecevisualización interactiva y tiempo de
reconstrucción líder para una calidad de imagen
superior.