Gama de sistemas de rayos X y TC líder en la industria para
metrología
e inspección no destructiva de alta resolución, que suministra
una
amplia gama de industrias y aplicaciones globales
Soluciones flexibles para satisfacer las aplicaciones de
inspección más exigentes
La gama de sistemas de 225 kV líder en la industria de Nikon Metrología
ofrece la máxima flexibilidad y versatilidad para la
inspección y metrología de rayos X por TC. Las series XT
H 225, XT H 225 ST 2x, MCT y XT H 320 ofrecen soluciones
personalizables para aplicaciones de rayos X 2D y
tomografía computarizada (TC) 3D. Estos sistemas se
suministran a una amplia base de clientes respaldados
por soporte global y se pueden configurar para adaptarse
a una variedad de aplicaciones en los sectores
automotriz, aeroespacial, energético, médico, dental,
fabricación aditiva, electrónica, consumo y muchos otros
sectores.
Descripción del producto
La versátil serie XT H 225 está controlada por el software Inspect-X
líder en la industria, una GUI avanzada de sexta
generación que proporciona flujos de trabajo intuitivos
adaptados a todos los usuarios. Junto con los tiempos de
reconstrucción líderes en el mundo y el software de
visualización y análisis de vanguardia, la serie XT H
ofrece el paquete completo para la inspección por rayos
X y TC.
Beneficios y características
Fuente de rayos X para cada aplicación
En el corazón de la calidad de imagen superior de Nikon Metrology se
encuentra la tecnología de fuente de
rayos X líder en el mundo. Donde los
modelos de la competencia requieren
configuraciones de doble tubo para mayor
flexibilidad, el diseño de la fuente de
rayos X interna única de Nikon permite
que hasta 5 cabezas de objetivo encajen
en la misma base de tubo de rayos X, lo
que da como resultado una flexibilidad y
un rendimiento únicos con solo un tubo.
Los objetivos de rayos X fácilmente intercambiables permiten la
optimización para una amplia gama de
muestras, ofreciendo un objetivo de
transmisión con reconocimiento de
características submicrónicas, a través
del objetivo de reflexión de 225kV (con
la opción única de objetivo
multimetálico), hasta el único diseño de
objetivo giratorio del mundo para
rendimiento excepcional.
Por último, el objetivo de microenfoque de 320 kV proporciona una
capacidad de penetración adicional para
muestras más densas. El tubo único y
adaptable proporciona una calidad de
imagen sobresaliente a través de
múltiples potencias y resoluciones como
ningún otro, sin agregar mantenimiento
adicional e innecesario y el costo de un
enfoque de doble tubo.
Solución de TC de rayos X versátil
Las series XT H 225 y 320 permiten la personalización del tamaño del
sistema, el peso de la muestra, la
potencia de la fuente y la resolución,
con una selección de detectores de
pantalla plana de alta calidad. Los
avances intuitivos de hardware y
software permiten opciones como la
distancia ajustable de la fuente al
detector para optimizar la calidad de la
imagen, y modos de escaneo avanzados
como X.Tend helicoidal y Offset.CT, para
imágenes de alta resolución de muestras
altas que abarcan múltiples campos de
visión, o imágenes de alta resolución de
muestras más anchas que el detector,
respectivamente.
El sistema MCT225 de grado metrológico está configurado para aplicaciones
de medición de alta precisión, con
modificaciones de hardware y
procedimientos de alineación de
precisión con verificación MPE de
acuerdo con VDI / VDE 2630. El software
avanzado Inspect-X, con flujos de
trabajo intuitivos, pantallas gráficas y
capacidades de automatización, controles
todos los sistemas de la gama.
Objetivo giratorio único
Nikon Metrología es la única empresa del mundo que suministra sistemas de
TC de rayos X con tecnología de objetivo
giratorio. Otros productos en el
mercado, que utilizan materiales
absorbentes de calor, requieren períodos
de enfriamiento y pueden tener
limitaciones de energía, pero el
objetivo giratorio exclusivo de 225kV
permite un funcionamiento continuo en
todo su rango de potencia hasta 450W
para una productividad de inspección
superior.
La tecnología de objetivo giratorio refrigerado por líquido agrega más
capacidades de potencia, resolución y
reducción del tiempo de escaneo.
Dispersa de manera eficiente el calor
generado cuando el haz de electrones
golpea la superficie para generar
fotones de rayos X, lo que aumenta el
flujo hasta 5 veces, lo que permite una
resolución hasta 3 veces mayor para la
misma potencia o permite que los datos
se recopilen de 3 a 5 veces. Más rápido
para la misma resolución.
Automatización e integración
La serie XT H proporciona modos de automatización para maximizar la
productividad de la TC. Los flujos de
trabajo de producción automatizados son
totalmente personalizables, con escaneo,
reconstrucción y análisis de datos
automatizados. El software CT Pro
interno ofrece tiempos de reconstrucción
líderes en el mundo realizados por las
especificaciones de computadora de alto
rendimiento configuradas por expertos de
Nikon Metrology, con opciones de mejora
de imagen y eliminación de artefactos
incluidas como estándar.
Con control total a través de la comunicación IPC, la serie XT H se puede
configurar con cargadores automáticos y
retroadaptación de robots para una
automatización completa y una
integración perfecta en una línea de
producción. Después de proporcionar una
calidad de imagen superior y tiempos de
reconstrucción líderes, las herramientas
de análisis personalizables están
disponibles con salida de datos
compatible tanto con el software interno
como con todo el software de terceros
líder en la industria para automatizar
el análisis específico de muestras.
Especificaciones
XT H 225 para inspeccion de piezas pequeñas a
grandes
XT H 225 ST 2x Sistema flexible para gran
variedad de aplicaciones
Sistemas líderes en la industria que ofrecen
precisión a micras para realizar análisis
estructural y dimensional y mediciones no
destructivas de geometría compleja.
Rayos X con micro enfoque de 450Kv, ofrece alta
penetración y poder, y alta resolución para
inspección no destructiva de componentes y
fundiciones densas.
El software avanzado maximiza la inspección de
los rayos X en la serie de sistemas XT V, usando
las capacidades más avanzadas para visualización
y análisis.
Software líder en la industria para inspección
intuitiva de CT de rayos X, ofrece visualización
interactiva y tiempo de reconstrucción líder
para una calidad de imagen superior.
