Tecnología de fuente de rayos X de alta energía

La tecnología de fuente de rayos X avanzada, diseñada internamente y líder en el mundo, clasificada desde 180 kV hasta 450 kV, es la base de la calidad de imagen superior de los sistemas de rayos X y TC de Nikon Metrology. La única fuente de rayos X de microenfoque de 450 kV de alta energía del mundo y la tecnología de objetivo giratorio de alto brillo dan como resultado una resolución de imagen superior a todos los demás sistemas de microenfoque en el mercado y mucho mejor que la que se puede lograr con fuentes de mini enfoque. Esto permite una adquisición de datos de TC más rápida al tomar más radiografías en un tiempo determinado sin sacrificar la calidad de la imagen o una mayor precisión y resolución de los datos al mismo tiempo. Una fuente de microenfoque de 450 kV y una fuente de mini enfoque de 450 kV se pueden combinar en una configuración de sistema.

Versatilidad inigualable del sistema

Las opciones de las series E1, M2, C1, C2 y C3 son soluciones personalizables, desde configuraciones de gabinete de fuente única y más pequeñas hasta configuraciones de gabinete de fuente triple y más grandes, los usuarios pueden encontrar un sistema adecuado para la aplicación. Los sistemas pueden instalarse en un recinto de radiación existente o suministrarse con un nuevo recinto modular con diseño ergonómico y funciones de usuario intuitivas.

Las opciones de detector de panel plano con panel-Scan rápido y capacidades helicoidales X.Tend para todos los tamaños de muestra se suman a la versatilidad, mientras que se puede especificar personalización adicional para atender muestras pesadas, configuraciones de carga o altura extendida.

La base de granito de grado metrológico proporciona un escaneo ultrapreciso, con las series E y M que tienen un recorrido vertical en el manipulador de muestras, y la serie C tiene una fuente de rayos X vertical intuitiva y un movimiento del detector, que se adapta a cualquier aplicación.

Detectores avanzados y modos de escaneo

Los sistemas de envolvente grande se pueden configurar con una selección de detectores grandes de alta calidad de 16 bits de hasta 4000x4000 píxeles para obtener una calidad de imagen óptima. Estos detectores se pueden configurar con una distancia variable de la fuente al detector, lo que significa que cualquier imagen de muestra se puede optimizar para el contraste y la resolución.

Para aumentar la versatilidad, la gama de modos de escaneo avanzados de Nikon permite una calidad de imagen superior incluso con muestras grandes, altas, anchas o densas. El modo de escaneo de panel rápido permite un campo de visión extendido para muestras amplias, mientras que X.Tend permite a los usuarios extender la altura de una tomografía computarizada a través de múltiples campos de visión en un escaneo continuo sin interrupciones, mejorando la resolución para muestras altas . Las opciones de detector dual pueden combinar detectores de panel plano con tecnología de detector CLDA, para CT sin dispersión incluso en muestras densas.

Software para asistir en todas las aplicaciones

Una GUI intuitiva ofrece flujos de trabajo rápidos guiados por menús que se adaptan a cualquier usuario. Hay personalización completa para operadores expertos, así como escaneo por lotes y perfiles precargados para principiantes. Además de los modos de escaneo avanzados, los sistemas de sobres grandes vienen con el motor de reconstrucción avanzado de Nikon, para tiempos de reconstrucción líderes en el mundo y generación de datos de alta calidad.

El control a través de la comunicación IPC permite análisis y flujos de trabajo automatizados, con salida de datos al software de visualización y análisis líder en la industria. Se encuentran disponibles herramientas de análisis y soluciones de software personalizables para análisis específicos de muestras.