Nikon Microscopios para Semiconductores y Wafers
 
 Técnica En Laboratorios, S.A.  
Ciudad de México  México  
Tels: (+52) 55 5574 5883 y 55 5574 1138  
Fax (+52) 55 5564 1663  
Correo info@tecnicaenlaboratorios.com
Microscopios de Semi Conductores y Cargadores de Wafers

Las ópticas legendarias de Nikon en todos los microscopios semiconductores de la serie Eclipse L se combinan con grandes rangos de platina de 200 x 200mm y 300 x 300mm. Los microscopios semiconductores de Nikon proporcionan imágenes magníficas en todo el rango de aumento para realizar observaciones rápidas y fluidas de sus materiales. Los microscopios Nikon Eclipse reciben obleas de la serie Wafer Loader (NWL) de Nikon. La confiable serie de manipuladores NWL200 es adecuada para obleas de hasta 200mm de diámetro.


Presentación

   

Eclipse Series L200N

Sistemas de microscopios para inspección de máscaras y obleas de 200mm con identificación de defectos por luz reflejada.

Más.

 

Eclipse Series L300N

 

Sistemas de microscopios para inspección de máscaras y obleas de 300mm con identificación de defectos por luz reflejada.

 

Más.

 

NWL 200

 

Inspección avanzada IC alimentador de obleas capaz de cargar obleas de espesor de 100µm

 

Más.

 
 
 
Ir al Principio
 
Técnica En Laboratorios, S.A.  Acerca de Nosotros | Contactos | Mapa del Sitio | Términos de Uso | Aviso de Privacidad

Ciudad de México, México. (+52) 55 5574 5883, 55 5574 1138 E-mail info@tecnicaenlaboratorios.com

© Noviembre 2023, Todos los derechos reservados Técnica En Laboratorios, S.A.