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Beneficios y características
Rendimiento
superior
de medición
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Realiza mediciones de nivel de 0,1 nm de superficies ultrasuaves sin
proceso de promediado ni filtrado.
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Permite mediciones con la misma resolución de altura en una amplia gama
de aumentos.
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Permite la medición de superficies lisas y rugosas sin cambiar el modo de
medición o los filtros ópticos.
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Captura tanto una imagen enfocada como una imagen de la altura de la
superficie.
Amplia gama de métodos de observación.
El sistema se puede utilizar como microscopio óptico. Es posible realizar
observaciones de campo claro, polarización, DIC y
fluorescencia
Oblea de SiC: medición de nivel sub-nano en una amplia gama de
aumentos
Tipo: sistema BW-D501
Asunto: oblea de carburo de silicio (SiC)
Medición de nanonivel del filo de la navaja con lente de gran
aumento
Asunto: Filo de navaja
Rugosidad de la superficie del papel (sintético, normal,
brillante, mate)
Rugosidad superficial de la cerámica
Tipo: sistema BW-A501
Asunto: Membrana de diamante sintetizado mediante
deposición de vapor químico de plasma en líquido
Fotos cortesía de: Ph.D. Hiromichi Toyota, Facultad de
Ciencias e Ingeniería de la Universidad de Ehime
Paquete IC: medición de rango micrométrico en una amplia gama de
aumentos
Calibración de altura con el estándar VLSI certificado por NIST
Sistema BW-D501
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La
tecnología de medición de interferencia óptica de tipo
escaneo patentada por Nikon logra una resolución de
altura de 1 picómetro (pm). Nikon ofrece una variedad de
microscopios ópticos como sistemas de medición para
adaptarse a una amplia gama de aplicaciones de medición.
