Nikon Metrología Microscopio LV100ND
 
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Eclipse LV100ND - Microscopio motorizado con iluminación episcópica/diascópica

 

microscopios industriales de metrología nikon vertical LV100NDMicroscopio motorizado con iluminación episcópica / diascópica que permite controlar los objetivos y la intensidad de la luz desde la unidad de control de la cámara y detecta automáticamente el método de observación.

 

Un microscopio manual con iluminación episcópica / diascópica, que satisface las diversas necesidades de observación, inspección, investigación y análisis en una amplia gama de campos industriales. Un NA más alto y una distancia de trabajo más larga que nunca significan un rendimiento óptico superior y una imagen digital eficiente.

 

Tamaño Máximo de muestra: 150 x 150mm

 

Beneficios clave

 

  • Cuerpo de microscopio modular apropiado para diversas tareas y observaciones

  • La serie CFI60-2 recientemente desarrollada proporciona lo último en niveles de distancias de trabajo largas y la aberración cromática más avanzada en un cuerpo liviano

  • Imágenes digitales sencillas

 

Aplicaciones

 

  • Antenas

  • Telecomunicaciones y electrónica

  • MEMS

  • Metalurgia

  • Implantes/Prótesis

  • Compuestos

  • Fabricación de metales

  • Tejidos/Textiles

  • Análisis de grietas y fallas

  • Óptica telescópica

  • Teléfonos móviles, afeitadoras y relojes

 

Beneficios y características

 

Tipo de microscopio

 

  • Modelos combinados de iluminación reflejada/transmitida

  • Tipo manual


Cuerpo de microscopio modular apropiado para diversas tareas y observaciones

 

Métodos de observación compatibles: campo claro, campo oscuro, polarización simple, DIC, epifluorescencia e interferometría de dos haces. Además, también son posibles el contraste de fase y la observación DIC con iluminación diascópica.

Es compatible con la investigación, el análisis y la inspección diversos y avanzados.

 

Métodos de observación compatibles:

Campo Claro

Campo Oscuro

DIC

Fluorescencia

Polarización

Contratste de fases

Interferometría Rayo Doble

Episcópico

O

O

O

O

O

O

Diascópico

O

O

O

O

O

* Seleccione la óptica adecuada para cada observación.


Platinas compatibles

 

  • Platina LV-S32 3x2 (Viaje: 75 x 50mm con placa de vidrio) * Se puede equipar con soporte para portaobjetos LV-S32SGH

  • Platina LV-S64 6x4 (Viaje: 150 x 100mm con placa de vidrio)

  • Platina giratoria LV-SRP P

  • P-GS2 G platina 2 (se utiliza con el adaptador de platinaLV-SAD)

  • NIU-CSRR2 Platina cerámica giratoria con mango derecho Ni-U (Viaje: 78 x 54mm)

  • Platina con mando derecho C-SR2S (Viaje: 78 x 54 mm: Se utiliza con el adaptador de platina LV-SAD)

 

Nueva serie CFI60-2

 

La serie CFI60-2 proporciona lo último en niveles de distancias de trabajo largasy la corrección de aberración cromática más avanzada en un cuerpo liviano

 

La serie CFI60-2 ofrece AN más grandes y distancias de trabajo más largas que nunca.

 

Microscopios industriales de metrología nikon Objetivos verticales Eclipse para observación de campo claro

 

Objetivos para la observación de campo claro (epi)


Imágenes digitales sencillas

 

Nikon metrology microscopios industriales imágenes digitales verticalesLa información sobre el objetivo en uso se detecta y se muestra en la unidad de control de la cámara. Además, la información se convierte automáticamente en datos de calibración apropiados cuando se cambia la ampliación.

 

  • Sistema de cámara digital para microscopía Serie de mira digital

  • Software de imágenes NIS-Elements




Especificaciones

Unidad base: Altura máxima de la muestra: 38mm (cuando se utiliza con el revólver portaobjetivos LVNU5AI U5AI y la platina LV-S32 3x2 / LV-S64 6x4)
* 73 mm cuando se usa con una fuente de alimentación interna de 12V 50W de elevador de columna para perillas de ajuste fino, grueso y de atenuación
Izquierda: ajuste grueso y fino / Derecha: ajuste fino, carrera de 40mm Ajuste grueso: 14mm/vuelta (con ajuste de par, mecanismo de reenfoque)
Ajuste fino: 0.1mm /vuelta (1μm / graduación) Intervalos de los orificios de montaje de la platina: 70 x 94 (fijado por 4 tornillos M4)
Revólveres: C-N6 ESD Revólver séxtuple ESD LV-NU5 Revólver quíntuple universal ESD LV-NBD5 BD Revólver quíntuple ESD LV-NU5I Revólver quíntuple universal inteligente ESD
Iluminador episcópico: LV-UEPI-N
LV-LH50PC 12V50W Lámpara precentrada Interruptor de campo claro / oscuro y diafragma de apertura ligado (centrable), diafragma de campo (centrable) Acepta filtro de ø 25mm (NCB11, ND16, ND4), polarizador/analizador, placa, equilibrador de luz de excitación; equipado con terminador de ruido

LV-UEPI2
LV-LH50PC 12V50W Lamphouse precentrado Iluminador de fibra precentrado HG: C-HGFIE (con ajuste de luz) * opción Interruptor de campo claro / oscuro y diafragma de apertura vinculado (centrable), diafragma de campo (centrable), función de cambio automático de elementos ópticos adaptada a interruptor de campo claro, campo oscuro y epi-fluorescencia Acepta filtro de ø 25 mm (NCB11, ND16, ND4), polarizador/analizador, placa λ, equilibrador de luz de excitación; equipado con terminador de ruido
Cabezales: Cabezal trinocular LV-TI3 ESD (imagen erguida, campo de observación: 22/25)
LV-TT2 TT2 Cabezal trinocular inclinable (imagen erguida, campo de observación: 22/25)
Cabezal C-TB (imagen invertida, campo de observación: 22)
Cabezal P-TB (imagen invertida, campo de observación: 22)
Cabezal trinocular P-TT2 (imagen invertida, campo de observación: 22)
Platinas: PlatinaLV-S32 3x2 (Viaje: 75 x 50mm con placa de vidrio) Compatible con ESD
Platina LV-S64 6x4 (Viaje: 150 x 100mm con placa de vidrio) Compatible con ESD
Platina LV-S6 6x6 (Viaje: 150 x 150mm) Compatible con ESD
Oculares: serie de oculares CFI
Objetivos: Microscopio industrial Sistema óptico CFI60-2/CFI60 Serie de objetivos : Combinaciones de acuerdo con el método de observación
Rendimiento ESD: 1,000 a 10V, en 0.2 s. (excluyendo ciertos accesorios)
Consumo de energía: 1.2A / 75W
Peso: aproximadamente 8.6 kg

Catálogos      
Catalogo Eclipse LV-N Catalogo componentes de luz reflejada    
LV-N Componentes de microscopio para aplicaciones de luz reflejada    
 
 
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