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L200A
L200
L200D
L150
Optiphot 300
NWL 860
NWL641
Dart Software


Especificaciones

Semiconductores e Inspeccion

Especificaciones Dart

Características
  • Revisiones de defectos (KLA, Tencor y más) y capacidades de Inspección

  • Mapeo de obleas (Electroglas, especificadas por el cliente)

  • Archivamiento y retribución de imagen.

  • Interfases GEM/SECSII. VARS®, OCR y otras.

  • Compatible con redes Windows NT®

  • Trabaja con todos los sistemas de inspección actuales y futuros

  • Recetas personalizables para inspección y revisión de defectos

  • Vista de datos gráfica y en textos.

  • Observación de vídeo en tiempo real y archivamiento de imagen.

  • Recuperación de imágenes desde directorios personalizados para enseñanza y entrenamiento.

  • Pantallas flexibles que pueden ser configuradas para ajustarse a sus aplicaciones especificas.

  • Privilegios basados en los nombres de usuarios.

  • Salida de formatos múltiples incluyendo Excel®

  • Hardware y soluciones de software personalizadas como opción.

Especificaciones ]


L200A ] L200 ] L200D ] L150 ] Optiphot 300 ] NWL 860 ] NWL641 ] [ Dart Software ]


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El concurso internacional de Nikon para fotografías tomadas a través del microscopio. Entérese o entre al concurso en línea. Este sitio esta en Ingles


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