SRIC | Contraste de Interferencia Reflectivo de Superficie
PALABRAS CLAVE: TIRF, TIRF de luz blanca
DEFINICION:
El SRIC se usa en imagen TIRF para confirmar las áreas del espécimen que están en contacto con el cubre objetos o el frasco de cultivo
TECNOLOGÍA:
En microscopia TIRF, la iluminación excita los fluoróforos que se encuentran hasta aproximadamente a 100nm de la superficie del vidrio (cubre objetos o frasco de cultivo). Por lo tanto, los especimenes, se deben adherir a la superficie del vidrio para que pueda obtener imágenes TIRF. En la imagen SRIC, las áreas del espécimen en contacto con el vidrio aparecen negras, permitiendo a los usuarios confirmar si ocurre o no el contacto. El SRIC no envuelve la excitación del fluoróforo así la foto-toxicidad y el daño al espécimen se reducen. Los usuarios pueden asegurar que todo el criterio de imagen es correcto (foco, contacto) antes de proceder con el TIRF
APLICACIÓN:
El SRIC es aplicable a todos los modos de imagen TIRF (láser y TIRF de luz blanca) para identificar la superficie basal de la célula. Este requiere de una modificación al aditamento de epí-fluorescencia.
CONFIGURACIÓN DEL MICROSCOPIO:
El SRIC se puede usar con ambos sistemas TIRF de Nikon el TIRF de láser o el TIRF de luz blanca usando la serie de microscopios invertidos Ti. La estructura modular de estos microscopios permite una modificación al aditamento de epí-fluorescencia para permitir la imagen SRIC. El SRIC requiere un simple cambio en el modo de imagen. El TIRF y la epí-fluorescencia/SRIC se pueden montar simultáneamente sin restricción en sus capacidades individuales.
SISTEMA SOLUCIÓN:
El microscopio invertido Nikon Ti-E configurado para imagen TIRF junto con el C1 para una flexibilidad completa para cambiar entre imagen TIRF y confocal.
LIGAS:
