Microscopio de Medición | Microscopio de  Medición

 

PALABRAS CLAVE: medición sin contacto, metrología manual, lectura de salida digital (DRO), campo claro, campo oscuro, DIC, fluorescencia, microscopia de polarización

 

DEFINICIÓN:

Un microscopio diseñado específicamente para metrología

 

TECNOLOGÍA:

Un microscopio de medición esta basado en el mismo principio de cualquier microscopio, aunque las técnicas de imagen y los dispositivos de iluminación están basados generalmente en iluminación de luz reflejada para observar piezas de trabajo opacas (en lugar de luz transmitida usada en la obtención de imágenes de varios especimenes biológicos transparentes). Los microscopios de medición habilitan una riqueza de diferentes modos de imagen, incluyendo campo claro, campo oscuro, polarización simple, DIC y observaciones de epí-fluorescencia, que se pueden explotar para reunir más información desde la muestra, como se requiera. Las platinas en los microscopios de medición pueden estar equipadas con codificadores lineales, platinas motorizadas, dispositivos de enfoque automático y el software apropiado para incrementar la precisión den la metrología. La medición en la mayoría de los microscopios de medición esta confinada al campo de observación y, por lo tanto, requiere de la intervención del operador para escanear la pieza completa, si lo requiere.

 

 

APLICACIONES:

Los microscopios de medición son usados más comúnmente usado en los departamentos de “aseguración de calidad” y ambientes de investigación industrial.

 

CONFIGURACIÓN DEL MICROSCOPIO:

Las series de microscopios Nikon MM400/MM800 han sido diseñados para la medición industrial y el análisis de imágenes. El control digital completo asegura la máxima precisión de medición. Estos microscopios incluyen conexiones electrónicas a un HUB (concentrador) que brinda integración total de los periféricos del microscopio administrados por el programa de metrología E-MAX. El programa E-MAX, que fue diseñado para metrología, brinda varias funciones avanzadas brindadas por las máquinas de medición de visión. Este interactúa con la platina del microscopio que tienen codificadores sobre este para permitir la lectura de la ubicación de la pieza de trabajo. Esto habilita mediciones sobre los objetos que no se pueden ver en un solo campo de observación. Las platinas tienen varios tamaños y pueden ser rotacionales o X, Y. estos son los primeros microscopios de medición que ofrecen un Auto-Foco Láser TTL opcional. Este sistema láser AF tiene una velocidad de enfoque de 0.5 segundos con una capacidad de repetición tan alta como 0.5um (objetivo 20x diámetro de punto de 0.75um).

 

SISTEMA RECOMENDADO:

Por favor consulte a su representante local Nikon para consejos relacionados con sus necesidades de imagen.