Medición sin contacto | Medición sin contacto
PALABRAS CLAVE: Proyector de perfiles, microscopios de mdición, autocolimador, visión/vídeo medición, interferometría, microscopios estereoscópicos, microscopios de inspección
DEFINICIÓN:
La medición sin contacto elimina el contacto entre la pieza de trabajo y la herramienta de medición.
TECNOLOGÍA:
La medición sin contacto se realiza más comúnmente con tecnologías óptica/láser (aun cuando hay otros métodos de medición sin contacto como la ultrasonografía, capacitiva e inductiva). Los ejemplos de medición ópticos incluyen:
Autocolimador: uso de luz colimada para medir desviación angular
Proyector de perfiles: donde la medición toma lugar sobre una imagen proyectada, aumentada de la muestra en lugar de la muestra misma.
Microscopio de medición con cámara digital: donde con la ayuda de programas de análisis de imágenes, las mediciones se realizan en la imagen capturada.
Visión/vídeo medición: a diferencia de las opciones descritas arriba, la medición por vídeo no se restringe al campo de observación y es una opción ideal para tareas de metrología automatizadas de alta precisión.
Sistemas de visión confocal: para mediciones precisas en eje Z.
Interferometría: esta tecnología basada en láser requiere de un microscopio de alta resolución, un interferómetro y el programa apropiado. Esta puede resolver pequeñas diferencias en las características de la superficie (en la escala nanométrica).
Aplicación:
Las mediciones sin contacto en metrología tienen la ventaja de que esta elimina la posibilidad de que se dañe la pieza (deformada, rayada o contaminada) a través del contacto con la herramienta de medición. Esto puede ser importante, por ejemplo, cuando mide materiales suaves, flexibles o en ambientes críticos a la contaminación como la fabricación de semiconductores. Las mediciones sin contacto, especialmente usando sistemas de visión/video, pueden ser una ventaja donde se requiere de velocidad y precisión. La operación automatizada, además, puede eliminar el error del operador e incrementar grandemente la salida de piezas.
CONFIGURACIÓN DEL MICROSCOPIO:
Nikon ofrece varias soluciones para la metrología sin contacto incluyendo su rango de sistemas de visión NEXIV (incluyendo un instrumento diseñado específicamente para aplicaciones confocales de semiconductores), autocolimadores, proyectores de perfiles, y microscopios de medición como las series MM400 y MM800 que ofrecen varias funciones avanzadas del sistema de medición por visión cuando se combinan con el programa E-MAX. Las mediciones simples, sin contacto, no siempre se requieren en un sistema de metrología dedicada. Por ejemplo, el control DS-L2, es una computadora independiente con una pantalla LCD para cámaras digitales colocadas en un microscopio. Esta permite a los usuarios capturar un imagen de la muestra y dibujar líneas de medición en la imagen. El programa de análisis de imágenes NIS-Elements lleva capacidades de medición a los estéreos AZ100 y SMZ1500 y las series de microscopios de inspección LV.
SISTEMA RECOMENDADO:
Los sistemas de visión NEXIV brindan lo último en soluciones de medición sin contacto. Explotando las tecnologías ópticas de medición Nikon, el procesamiento de imagen y las herramientas de detección automática de bordes, los sistemas NEXIV pueden medir una enorme variedad de partes, y pueden realizar múltiples mediciones de perfiles complicados. El NEXIV VMA-2520 ofrece capacidad multisensor (listo con prueba de toque) para habilitar medición precisa de áreas inaccesibles a tecnologías ópticas. Por favor consulte a su representante local Nikon para consejos relacionados con sus necesidades de imagen.
