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Especificaciones
N-SIM |
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Súper Resolución |
Lateral (X-Y) entre 85 y 110nm (Depende de la longitud de
onda y óptica)
Axial (Z) 200-250nm (Depende de la longitud de onda y
óptica)
Rango Axial 3D: hasta 20um
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Velocidad |
TIRF y SIM 2D = 0.6s/cuadro (depende del tiempo de
exposición)
SIM 3D = 1.0s/cuadro
(depende del tiempo de exposición)
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Microscopio |
Ti-E TIRF con sistema de enfoque perfecto e iluminador SIM
Caja para microscopio SIM |
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Objetivos |
Plan Apo IR 60x agua 1.27
Apo TIRF 100x 1.49 |
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Láseres disponible, Modulado por AOTF |
457nm (100mW)
488nm (200mW)
515nm (100mW)
532nm (100mW)
561nm (100mW) |
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Mesa antivibratoria |
Requerida |
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Cámara |
EM-CCD, Cámara iXon DU897 (Andor) |
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Temperatura de operación |
25°C
± 0.5°C |
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Humedad de operación |
40-50% ± 3% |
