| Características y
Beneficios IR-1000 |
Respuesta espectral
Alta Sensibilidad
Diseño de dos piezas
Amplio rango, ganancia automática
Amplio rango,
nivel de negros
Señal de prueba escala de
grises de 10 pasos
Integración en chip |
Excelente sensibilidad en
cercano al IR y todo el espectro visible
Respuesta
desde 380nm a 1,200nm
Brinda sensibilidad 5 veces mayor a 900nm
Permite
un control conveniente de las características de mejora de
imagen desde el escritorio.
Cabezal compacto para
aplicaciones con espacio limitado
Reduce la
necesidad de reajustar constantemente la ganancia bajo
condiciones cambiantes de luz
Aumenta el contraste
de la imagen casi 100 veces cuando se usa la ganancia
automática y nivel de negros manual
Permite al
usuario ajustar rápidamente y de forma correcta el
contraste y brillantes en un monitor
Permite sensibilidad incrementada
Se puede usar con
el Investigater independiente o varias tarjetas de captura
para computadora |
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Especificaciones Técnicas IR-1000 |
Elemento de imagen
Cociente Señal a Ruido
Sombra
Sensibilidad
Iluminación mínima
Corrección de gama
Ganancia
Obturador electrónico
Elementos Activos de la
imagen
Tamaño de píxel
Resolución (H) y Vertical
Frecuencia de reloj de píxel
Promedio Vertical
Promedio Horizontal
Montura de Lente
Opciones
Peso Unidad de control
Cabezal
de la cámara
Tamaño Unidad de
control
Cabezal de la cámara
Temperatura de operación
Voltaje de entrada |
CCD de 1/2" con
transferencia Interlineal y micro lente
56db
<5% total
0.05fc (0.5 lux) en el área de
sensibilidad @ 3,200K
0.00035fc (0.0035 lux)
Gama ajustado a 1.0 de fábrica
Cambia entre
fijo y automático
9 pasos manual a 1/10,000
RS-170
CCIR
768(H) x 494(V)
752(H) x 582(V)
8.5um x 9.8um
8.6um x 8.3um
570TVL
560TVL
14.318mHz
14.1875mHz
59.95Hz
50Hz
15,734Hz
15,625Hz
Montura C
Investigater
Adaptador óptico
1/2"
0.670Kg
0.110Kg
5-1/2" (W) x
1-1/2" (H) x 8" (L)
1-3/4" (W) x 1-1/8" (H) x
3 3/4" (L)
0°C a +40°C
95 VAC a 250 VAC |
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Aplicaciones Sugeridas IR-1000 |
- Cercano al IR
- Microscopia de campo claro,
contraste de fases y campo oscuro
- Microscopia Fluorescente
- Electrofisiología
- Inspección Semiconductores
- Control de calidad en manufactura
- Análisis de fallas
- Análisis forense
- Ambiente de enseñanza
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